文物CT檢測掃描分析系統

    文物CT檢測掃描分析系統主要分為高能量CT和微焦點(diǎn)CT。CT是基于計算機斷層掃描技術(shù)，對文物進(jìn)行2D，3D檢測。

應用主要有六個(gè)方面：

●對文物內部結構及形貌進(jìn)行無(wú)損掃描并分析；

●對文物的起源，制作工藝、產(chǎn)地和用途提供重要信息；

●對文物的內部結構及尺寸進(jìn)行二維、三維的測量；

●對文物的穿孔內壁，鑲嵌加工痕跡數據分析，及數據庫的建立；

●高精度獲取與解讀文物的三維信息，并可實(shí)現逆向工程；

●相位成像功能。

相對優(yōu)勢：

●開(kāi)放式微焦點(diǎn)射線(xiàn)管，分辨率高，檢測更精確。

●設備設計緊湊，配置靈活，可滿(mǎn)足客戶(hù)多種要求。

●運行穩定，安全可靠。

●掃描速度快，圖像重建速度快。

    結構設計簡(jiǎn)約緊湊，是一套配置靈活、可滿(mǎn)足多種檢測需求的高分辨率 X 射線(xiàn)工業(yè) CT 系統，具有成像分辨率高、掃描速度快、功能豐富、操作方便、運行穩定、使用及維護成本低等特點(diǎn)。

    該系統可以配備160kV以上微米級分辨率X射線(xiàn)源，也可配置高能量開(kāi)放式微焦點(diǎn)射線(xiàn)源，zui高能量達到300KV，JIMA分辨率zui小可達到0.5微米。